전기적 신뢰성 열화 원인 규명한 공로

정재경 융합전자공학부 교수가 한국머크가 선정하는 ‘머크어워드’를 수상했다.

정 교수는 산화물 박막트랜지스터(TFT) 기술 양산 적용에 최대 이슈였던 전기적 신뢰성 열화 원인을 학문적으로 규명하며 능동형유기발광다이오드(AMOLED) 제품 양산에 기여한 공로를 인정받았다.

한편 머크는 디스플레이 기술 분야에서 뛰어난 과학적 업적을 기리기 위해 머크 액정 연구 100주년인 2004년 상을 마련한 바 있다.

정재경 교수